基于静态气体质谱仪的Xe稳定同位素高精度分析

摘要：

为解决氙(Xe)的九种稳定同位素质量差异大(约9.6％),质谱探测器接收难的问题,利用Helix MC Plus静态气体质谱仪,建立一种测量Xe全部稳定同位素丰度比的高精度质谱分析方法,快速、准确获得Xe的全部稳定同位素丰度.首先对混合气体样品中的Xe进行提取分离与纯化等条件实验,减小其他惰性气体及活性组分对Xe同位素分析测量的影响,再使用跳峰和多接收两种方式相结合的测量方法,实现在进样量极小时,基于Helix MC Plus型静态气体质谱仪的Xe全部稳定同位素的高精度测量,并利用天然丰度Xe标准气体对配制的混合气体样品测量结果进行线性校正.结果表明,在进样量约1.12×10-12 mol条件下,法拉第杯测量129 Xe/132 Xe、130 Xe/132 Xe、131 Xe/132 Xe、134 Xe/132 Xe、136 Xe/132 Xe丰度比的相对标准偏差≤0.24％,对于使用计数法测量124Xe/132Xe、126Xe/132 Xe丰度比的相对标准偏差分别为 0.22％和 0.39％.本方法稳定性好、精度高,可以实现痕量Xe稳定同位素的丰度比质谱分析测试.

关键词：稳定Xe同位素、静态质谱、丰度测量、分离纯化

所属期刊栏目：36

分类号：TL99;O657.6

资助基金：国家重点研发计划2021YFF0700100

在线出版日期：2023-06-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：351-357