专利计量指标研究进展及层次分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

专利计量指标研究进展及层次分析

引用
有效地利用专利计量指标可以挖掘专利数据中大量有价值的技术与法律信息。遗憾的是目前专利计量指标在我国的运用并不十分理想。本文在对专利计量指标相关研究进行全面梳理的基础上,分析当前专利计量指标研究中存在的主要问题与不足;根据专利文献的内在特性,将现有的专利计量指标划分为数量、质量、科技和速度4个层次。厘清专利计量指标的层次可以引导我们正确、有效的选择和使用相关指标,使专利信息更好地为企业技术创新服务。

专利计量、指标、专利质量、指标层次

56

G350(情报学、情报工作)

国家自然科学基金资助项目71072033;江门市科技计划资助项目江财I[2010]210

2012-04-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

99-103

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

图书情报工作

0252-3116

11-1541/G2

56

2012,56(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn