X射线荧光光谱分析法测定镍基合金中的Ni和Cr

摘要：

论述了X射线荧光光谱测定镍基合金中Ni和Cr的分析方法,采用理论α系数校正基体效应和谱线干扰系数L校正谱线重叠影响.方法准确度和精密度令人满意,操作十分简便、快速.

关键词：X荧光光谱法、镍基合金、分析方法

所属期刊栏目：17

分类号：TG3(金属压力加工)

在线出版日期：2010-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：15-18