基于PDE的错位ESPI无损检测方法与系统实现

摘要：

设计并实现了电子散斑干涉无损检测系统,搭建了错位电子散斑干涉光路.采用基于偏微分方程的电子散斑干涉信息提取技术对采集到的散斑图像进行处理,结合条纹图自身的方向信息,利用偏微分方程提取电子散斑干涉条纹图的中心线并进行相位插值,得到物体的变形信息,从而实现无损检测.实验结果表明:本文方法提取的相位平均误差在2％以内.

关键词：无损检测、错位电子散斑干涉、偏微分方程、相位提取

所属期刊栏目：35

分类号：TG115.28;TP391(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61102150;电光信息技术教育部重点实验室天津大学开放基金2013KFKT011;天津工业大学大学生创新创业训练计划项目201410058

在线出版日期：2016-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：38-42,49