星载计算机SRAM单粒子微闩锁检测方法

摘要：

静态随机存储器(SRAM)的单粒子微闩锁(mSEL)现象可能引起星载计算机运行崩溃,威胁整星运行安全.传统的闩锁电流检测方法难以发现mSEL,国内外研究成果至今没有给出令人满意的具体可行的星上mSEL检测方案,也没有航天工程应用实例.根据SRAM发生mSEL时的错误簇现象,设计了基于EDAC编解码的mSEL检测方案,介绍了软硬件架构,提出了两种检测策略并研究讨论了其性能.其中遍寻策略实现简单、性能稳定,随机搜索策略实现开销大,在某些场景中90%,检出率的要求下,检测速度达到遍寻策略的8.5倍.本文提出的方法能够提高空间应用中SRAM器件可靠性,降低由mSEL引发的系统失效概率.

关键词：星载计算机、SRAM、闩锁、微闩锁、单粒子微闩锁

所属期刊栏目：50

分类号：TN911.21

在线出版日期：2017-09-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：856-861