X射线荧光光谱法测定18Ni中主次元素含量

摘要：

研究了X射线荧光光谱法(XRF法)测定18Ni中主次元素含量的方法.通过选择合适的电流、电压,对谱线进行重叠校正,并利用理论影响α系数法进行基体校正.并与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES法)进行结果对比.结果表明,该方法正确度和精密度满足要求,适合于日常检测.

关键词：X射线荧光光谱法、18Ni、基体校正

所属期刊栏目：29

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2023-05-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：51-54