分别采用正负延迟触发的存储测试方法

摘要：

针对弹载存储测试系统中单一的负延迟触发方式稳定性不高,所测数据单一,测试电路集成度不高,数据易丢失等问题,提出了分别采用正负延迟触发的存储测试方法.该方法通路1以采样信号值的变化为触发信号,采用负延迟触发方式;通路2以发射击发机构运动为触发信号,采用正延迟触发方式.分析与试验表明:两种触发方式的结合,能够最大限度地减小外界干扰信号的影响,在数据采集过程中同步将数据存储于非易失存储器中,实时保存所测数据,有效提高了单次测试的可靠性,最大限度提高了系统的可利用性.

关键词：侵彻、存储测试、双触发、可靠性

所属期刊栏目：32

分类号：TJ013.2(一般性问题)

在线出版日期：2010-07-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：47-50