基因芯片技术检测利福平药物诱导H37Rv株基因突变的应用研究

摘要：

目的 用利福平、异烟肼药物作用H37RV株,诱导基因突变,用基因芯片技术检测耐药茵株突变基因位点.方法 H37Rv菌株用不同浓度的利福平和异烟肼加入培养液中观察菌株的耐药生长情况,耐药菌株用PCR扩增产物杂交,基因芯片检测药物作用部位是否有突变,检测突变基因位点.结果 利福平药物诱导H37Rv耐药,用基因芯片技术检测利福平耐药菌株,rpoB基因531位发生突变,TCG转变为TTG,直接测序发现在相同位点发生突变.耐异烟肼耐药菌株katG基因315位发生突变,AGC转变为ACC.同时加入两种药物的耐药株用基因芯片检测分别在rpoB基因531位,katG基因315位发生突变.结论 结核分枝杆菌产生耐药的机理与药物作用基因位点突变有关.基因芯片检测技术耐药菌株基因突变,不仅可以准确地确定突变位点和突变类型,快速、高效、设备简单,并能同时检测分析成千上万个基因有关突变位点.

关键词：H37Rv株、药物诱导耐药、DNA芯片、突变基因

所属期刊栏目：17

分类号：Q754(分子遗传学)

在线出版日期：2007-04-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：14-17