弥漫性轴索损伤的磁共振成像新技术研究进展

摘要：

弥漫性轴索损伤（diffuse axonal injury， DAI）是创伤性颅脑损伤（traumatic brain injury，TBI）中的一种特殊亚型，过去认为其是导致外伤患者严重致死致残或植物存活的主要原因［1］。但随着对其研究的深入，特别是超高场（3T）磁共振成像新技术包括结构成像技术［如磁敏感加权成像（susceptibility weighted imaging， SWI）、磁共振弥散张量成像（diffusion tensor imaging， DTI）及纤维束示踪成像技术（fiber tractography， FT）］和功能成像技术［如磁共振波谱（magnetic resonance spectroscopy，MRS）、血氧水平依赖性 blood-oxygen-level-dependent，BOLD）功能磁共振成像（functional magnetic resonance imaging， fMRI ）及动脉自旋标记（ arterial spin labeling， ASL）灌注成像］的进步和应用，提高了CT及常规MRI检查显示微小病灶和微结构损伤的检出率，可以发现传统成像技术难以显示的功能改变；不仅提高了对DAI疾病的诊断率（特别是增加轻中度 DAI 患者的检出），而且很大程度上改善了对DAI患者病理生理机制的认识。现笔者就较常见的此几种磁共振成像新技术在DAI的研究进展和应用进行综述。

机标关键词：弥漫性轴索损伤、功能磁共振成像、功能成像技术、magnetic resonance imaging、磁共振弥散张量成像、血氧水平依赖性、创伤性颅脑损伤、新技术、外伤患者、动脉自旋标记、病理生理机制、brain injury、微结构损伤、磁共振波谱、致死致残、应用、显示、微小病灶、加权成像、灌注成像

分类号：R65;R60

资助基金：国家自然科学基金资助项目编号81260217

在线出版日期：2015-02-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：4042-4043