MCI5570微电阻率成像测井仪常见故障分析

摘要：

伴随着EILog快速成像测井设备的不断发展,MCI5570微电阻率成像测井仪应运而生.文章就MCI5570微电阻率成像测井仪在现场应用中出现的具有一定代表性的故障问题进行分析,并提出了相应的解决办法.

关键词：EILog、微电阻率、测井

所属期刊栏目：27

分类号：P631.8+11

在线出版日期：2013-09-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：78-79