3.0 T磁共振成像磁敏感加权成像在脑静脉畸形中的诊断价值研究
脑静脉畸形（cerebral venous maiformation，CVM）是脑血管畸形的一种，其分为浅表型和深部型，浅表型指深部髓静脉区域通过浅表髓静脉引流入皮质静脉；深部型指皮质下区域引流入深部静脉系[1]，因既往常规影像学手段对其检出率较低，所以曾一度认为CVM是一种罕见的脑血管畸形。但随着近年来磁共振技术的不断发展，特别是高场磁共振中磁敏感加权成像（susceptibility weighted imaging，SWI）序列技术的出现，使CVM的检出率明显上升，目前认为是较为常见的脑血管畸形之一[2]。本研究基于3.0 T磁共振，对比分析CVM在SWI序列和常规T1WI、T2WI序列中的表现，评价SWI序列在CVM中的诊断价值。
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2015-08-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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