表征 Y 分子筛 Br?nsted 酸中心强度的结构参数

摘要：

采用量子力学方法研究了具有不同 Br?nsted 酸强度的 Y 分子筛酸中心的结构特性,计算了 O—H 键长(d O— H )、H 的 Mulliken 电荷(q H )、O—H 伸缩振动频率(νO— H )、∠Si—O—Al、分子轨道能量等结构参数,并探讨了这些结构参数与分子筛酸强度的对应关系。研究表明,d O— H 、q H 、νO— H 、∠Si—O—Al 与分子筛 Br?nsted 酸强度并不呈严格的对应关系,而酸性羟基 O—H 的反键轨道能量(E O— H?)与酸强度存在良好的对应关系,E O— H?越低,Br?nsted 酸性越强。因为 E O— H?越低,O—H 反键轨道越容易被电子填充；反键轨道被电子填充后,体系能量升高,O—H 键越容易被破坏,越容易给出 H +,从而 Br?nsted 酸性越强。因此,提出可以用 E O— H?表征Y 分子筛Br?nsted 酸强度,补充和完善了表征分子筛酸强度的结构参数。

关键词：分子筛、酸强度、结构参数、分子轨道能量

所属期刊栏目：32

分类号：O641(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：国家自然科学基金项目U1463209

在线出版日期：2016-12-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1083-1089