电子能量损失谱研究钛硅分子筛中钛的存在状态

摘要：

利用透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)以及电子能量损失谱技术(EELS)对Ti原子是否进人到TS-1钛硅分子筛骨架进行了研究.结果表明,TS-1钛硅分子筛中存在的微量TiO2粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为70 eV左右；而钛硅分子筛(TS)粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为79 eV左右.对比TiO2、TS粒子的EELS,发现TS粒子的Ti-L2、Ti-L3边与TiO2粒子的Ti-L2、Ti-L3边的能量差为1 eV,这种能量差异可以作为Ti原子进入TS-1钛硅分子筛骨架的一种证明.

关键词：钛硅分子筛(TS-1)、电子能量损失谱(EELS)、透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)

所属期刊栏目：28

分类号：TE624.4(石油、天然气加工工业)

资助基金：中国石化科研项目R201101

在线出版日期：2013-02-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：991-994