10.19927/j.cnki.syyt.2021.08.015
单光子计数法对光生载流子寿命的测量与分析
采用单光子计数法(Time Correlated Single Photon Counting,TCSPC)测量了MEH-PPV和CdS共混薄膜退火处理前后受到超短脉冲激光激发及光生载流子的瞬态衰减过程,得到了MEH-PPV:CdS共混薄膜材料的光生载流子寿命.分析表明,退火处理后MEH-PPV:CdS共混薄膜材料的光生载流子寿命更长,相应的光伏器件(结构为ITO/PEDOT:PSS/MEH-PPV:CdS/Al的有机薄膜光伏器件)也具有较高的光电转换效率.
光生载流子寿命;单光子计数法;瞬态荧光光谱;有机薄膜光伏器件
40
O473(半导体物理学)
2021-09-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
65-68