基于FPGA和MSP430的频率特性测试仪

摘要：

以FPGA和MSP430F6638为控制核心,主要包含信号源、被测网络、检波及显示部分.其中,测试信号源基于DDS原理,可以实现0.1～150 kHz的扫频,最小步进10 Hz,稳定度优于10-4,测量精度1％.并设计制作了中心频率5 kHz,带宽±50 Hz的阻容双T网络.检波部分采用高性能芯片AD637测量双T网络输出信号的有效值,通过单片机计算峰值;并将输出、输入信号分别放大整形得到稳定的方波输入FPGA计算相差,从而绘制幅频特性曲线和相频特性曲线.可以通过键盘设置步进,切换幅频特性曲线、相频特性曲线的显示界面,以及其他参数的显示和查看.整个系统是单片机和FPGA的有机结合、协同控制下,工作稳定,测量精度高,人机交互灵活.

关键词：DDS、相频特性、幅频特性、扫频、双T网络

所属期刊栏目：34

分类号：TM935.23

资助基金：武汉大学教改项目610400022

在线出版日期：2015-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：68-72