二氧化硅二维红外光谱研究

摘要：

在313～ 393 K温度范围内,分别测定硬质玻璃的一维红外光谱、二阶导数红外光谱和四阶导数红外光谱,确定硬质玻璃中二氧化硅的分子结构.研究发现,硬质玻璃中二氧化硅存在晶体和非晶体两种结构.进一步采用二维红外光谱研究了二氧化硅Si-O-Si不对称伸缩振动模式(vas(Si-O-si))、对称伸缩振动模式(vs(Si-O-Si))和弯曲振动模式(δ(si-O-Si)).研究发现:随着测定温度的升高,vas(Si-O-Si)红外吸收强度变化快慢的顺序为:1 074 cm-1(vas(si-O-Si)-amorphous)＞1 086 cm-1(vas(Si-O-Si)-crystalline-l)＞1 170 cm-1(vas(Si-O-Si)-crystalline-2);vs(si-O-Si)红外吸收强度变化快慢的顺序为:803cm-1(vs(Si-O-Si)-amorphous)＞780 cm-1(vs(si-O-Si)-crystalline-1)＞795 cm-1(vs(Si-O-Si)-crystal1ine-2);δ(Si-O-Si)红外吸收强度变化快慢顺序为:462 cm-1(δ(Si-O-Si)crystalline)＞472 cm-1(δ(Si-O-Si)-amorphous).该研究显示出二维红外光谱技术在无机材料热变性分析中的重大作用.

关键词：一维红外光谱、二阶导数红外光谱、四阶导数红外光谱、二维红外光谱、二氧化硅

所属期刊栏目：34

分类号：O434.3(光学)

资助基金：河北省科技厅科学技术研究与发展计划10215687;石家庄学院校级科研平台资助项目XJPT008

在线出版日期：2015-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：32-36