10.3969/j.issn.1006-7167.2012.07.021
基于改进遗传算法的组合电路测试生成
测试生成是集成电路测试研究的一个热点问题.针对遗传算法存在的搜索空间大、时间长的不足,在分析了逻辑门的关键位和非关键位的基础上,提出一种电路分块方法,使得遗传算法在测试生成中的应用得到了优化.仿真结果显示,该方法可获得100%的故障覆盖率,且测试时间缩短了15%.证实了该方法的有效性和可行性.
测试生成、遗传算法、分块、优化策略
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TN407;TP301.6(微电子学、集成电路(IC))
2012-11-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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