基于改进遗传算法的组合电路测试生成

摘要：

测试生成是集成电路测试研究的一个热点问题.针对遗传算法存在的搜索空间大、时间长的不足,在分析了逻辑门的关键位和非关键位的基础上,提出一种电路分块方法,使得遗传算法在测试生成中的应用得到了优化.仿真结果显示,该方法可获得100％的故障覆盖率,且测试时间缩短了15％.证实了该方法的有效性和可行性.

关键词：测试生成、遗传算法、分块、优化策略

所属期刊栏目：31

分类号：TN407;TP301.6(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-11-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：76-78