基于高光谱成像技术的苹果表面轻微损伤检测

摘要：

为了研究检测苹果表面轻微损伤的有效的方法,以红富士苹果为试验样本,通过高光谱成像采集系统采集苹果样本的高光谱图像,根据正常苹果表面区域和刚损伤、损伤后(3,10,24h)的损伤区域光谱反射率平均曲线得到有效光谱区域;用掩膜法对图像进行背景分割,并基于有效光谱区域做主成分分析,选取第四主成分(PC4)提取损伤区域,运用阈值分割的方法建立提取损伤区域的算法模型:应用该算法模型对正常苹果和损伤苹果进行检测.检测结果表明:正常苹果样本正确检测率达到100％,损伤苹果样本的正确检测率为97.5％,总体检测精确度高达98.75％,说明利用高光谱成像技术可以有效快速检测出苹果表面的轻微损伤.

关键词：高光谱成像、轻微损伤、检测、苹果

所属期刊栏目：46

分类号：TP391.41;TP274.52(计算技术、计算机技术)

资助基金：沈阳市大型仪器设备共享服务专项项目F15-166-4-00;辽宁省教育厅科学技术研究项目L2011114;辽宁省科学事业公益研究基金项目2012005015

在线出版日期：2015-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：508-512