X分子筛的热稳定性研究

摘要：

为了研究X分子筛的热稳定性,采用水热晶化法合成了纯相X分子筛,在氮气气氛中分别于500,600,700,800,900℃对X分子筛进行高温焙烧处理.采用X射线衍射、N2吸附-脱附、扫描电镜、热重分析、差示扫描量热、固体核磁共振和傅里叶变换红外光谱对X分子筛及其热处理产物进行表征.结果表明,热处理温度不超过800℃时,X分子筛晶体结构和微孔孔道均没有被破坏,热处理产物仍然保持了八面体形貌,晶体结构中的Si—O—Al连接保持稳定,且没有形成非骨架铝物种.当热处理温度达到900℃时,X分子筛的晶体结构发生熔融破坏,转变为边缘圆滑的无定形物种,微孔孔体积降至0,但是热处理产物中并没有形成明显的独立无定形铝物种,而是仍然存在大量Si—O—Al和Si—O—Si连接.

关键词：分子筛、FAU拓朴结构、热稳定性

所属期刊栏目：53

资助基金：中国石油化工股份有限公司科研开发课题ST21020

在线出版日期：2022-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：82-88