10.3969/j.issn.1001-4888.2002.01.018
用双频栅测三维物体的形状
本文介绍了一种新的相位测量轮廓术,通过使用不同栅距的栅获得两幅包裹相位图,然后比较这两幅包裹相位图,求得物体上任一像素点的绝对相位值,从而确定物体上任一点的高度.这种方法的优点是实验过程简单,精度高,相位的求解在整个过程中是单独进行的,不需借助相邻点,所以求得的相位值是各点的绝对相位,而且它可测量高度上中跳跃的物体的面形.
三维轮廓术、去包裹、双频栅
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O343.2(固体力学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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