宽带隙半导体器件仿真中收敛性问题的分析

摘要：

针对宽带隙半导体器件仿真中常见的不收敛性问题,通过分析数值求解算法与宽带隙半导体材料的固有特性知道,其原因是少子浓度过低,从而提出3种引入平衡或非平衡少子的解决方案.ISE仿真结果表明,采用文中提出的方案在解决收敛性同时能保证求解结果正确性,并且对刚开始进行宽带隙半导体器件仿真设计的本科生有很大帮助.

关键词：宽带隙半导体、收敛、少数载流子、ISE仿真

所属期刊栏目：5

分类号：TN302;TP391.9(半导体技术)

在线出版日期：2007-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：14-16