片上DAC在ATE上的测试

摘要：

描述IC量产测试中的一些实际问题,并针对片上DAC动态参数的测试,提出一种新颖的、节约成本的、行之有效的方案.该方案是根据ATE本身架构的特点以及DSP器件的成熟应用而提出的.还着力阐述了DAC测试中的一些理论和方法,如相关采样、过采样等.

关键词：ATE、DAC、ADC、Coherent Sampling、Oversampling

所属期刊栏目：3

分类号：TM930.116.9

在线出版日期：2006-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：9-11