根管显微镜下上颌第二磨牙根管数目的研究

摘要：

目的:应用根管显微镜观察临床治疗的上颌第二磨牙的根管数目.方法:选择临床需要根管治疗的上颌第二磨牙200颗,根管显微镜下,配合使用超声器械,EDTA,小号K锉探查扩通根管,记录根管数目,机用镍钛锉预备根管,侧方+垂直加压充填根管.结果:200颗上颌第二磨牙中:单根管3颗(1.5%);双根管19颗(9.5%);三根管119颗(59.5%);四根管59颗(29.5%),其中颊侧近中第2根管(MB2)57颗(28.5%),腭侧双根管2颗(1%).结论:上颌第二磨牙根管变异较大,应引起临床重视.应用根管显微镜,可显著提高根管定位的准确性和治疗的成功率.

关键词：上颌第二磨牙、根管数目、根管显微镜、根管融合、颊侧近中第2根管

所属期刊栏目：26

分类号：R781.05(口腔科学)

在线出版日期：2011-02-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：770-773