原子力显微镜在细胞辐射损伤研究中的应用

摘要：

原子力显微镜(atomic force microscopy,AFM)是一种具有超高分辨率的新型探针显微镜,已广泛应用于生物医学领域.该研究利用AFM检测X射线对细胞形貌和杨氏模量的影响,结果显示照射后的细胞表面变得粗糙,细胞高度降低,杨氏模量减小,提示细胞的刚性降低.进一步通过免疫荧光和流式细胞术实验发现,X射线能够破坏细胞骨架,损伤线粒体,进而诱发细胞凋亡.使用AFM研究辐射诱导的细胞损伤可以帮助人们了解辐射引起的组织病理改变,为一些放射病的诊断和治疗提供更多的理论依据.

关键词：原子力显微镜、X射线、细胞辐射损伤

所属期刊栏目：39

分类号：O766+.1(晶体结构)

资助基金：国家自然科学基金32071243

在线出版日期：2022-04-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：37-41