MR高分辨磁敏感加权成像在颅脑弥漫性轴索损伤中的应用价值

摘要：

目的 探讨高分辨磁敏感加权成像(susceptibility-weighted imaging,SWI)序列在颅脑弥漫性轴索损伤(diffuse axonal injury,DAI)诊断中的价值及SWI上病灶数目与患者临床预后的关系.方法 21例经临床及影像学确诊的DAI患者,分别在外伤后15 d内行3.0T MR常规序列(T1WI 、T2WI 和FLAIR)及高分辨SWI序列扫描,并观察患者病灶形态、分布、数目等,对比分析SWI和常规MR序列对DAI病灶显示的敏感性及信号特征,并与哥拉斯哥昏迷计分表(GCS)评分及预后进行相关性分析.结果 21例DAI患者中,MRI常规扫描共发现183个病灶,其中T1WI检出32个,T2WI检出65个,FLAIR检出86个;SWI序列共检出467个病灶.DAI出血灶的分布形态在SWI上表现多样,皮髓质交界区的病灶多呈斑点状或串珠状;脑白质和小脑病灶多呈团状或点片状;基底节、脑干病灶多呈斑片或点状.SWI序列发现病灶数量明显多于常规MR(t = -2.210,P＜ 0.05).SWI显示DAI的病灶数目与患者GCS评分呈负相关(r = -0.849,P＜0.05).结论 SWI对脑内微出血灶的检出明显优于常规MRI,并且病灶的数量与患者GCS评分密切相关,对DAI的诊断和预后判断有很高的价值.

关键词：脑、弥漫性轴索损伤、磁共振成像

所属期刊栏目：27

分类号：R651.1+5;R445.2(外科学各论)

在线出版日期：2011-06-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：662-665,688