MR磁敏感加权成像对脑弥漫性轴索损伤的诊断价值

摘要：

目的 探讨磁敏感加权成像技术(SWI)在脑弥漫性轴索损伤(DAI)中的应用价值.方法 27例DAI患者行1.5 T MR检查,扫描方法为T1WI、T2WI、FLAIR及SWI序列扫描,比较不同序列对DAI脑内病灶的显示率并分析其信号特征,评价SWI在检查和诊断中的作用.结果 27例各序列脑内各部位DAI病灶平均检出数依次为:T1WI 0.35±0.27 、T2WI 1.74±0.81 、FLAIR 3.04±2.11 、SWI 7.25±4.86,SWI检出数最多,共检出DAI出血灶1175个,与T1WI、T2WI和FLAIR的差异有统计学意义(Z值分别为-6.324,-5.752,-4.357,P<0.01),SWI可以显示常规序列不能显示的针尖大小的出血灶,且病灶边界显示更加清晰.DAI出血病灶主要分布在皮髓交界区、基底节、胼胝体、脑干及小脑等区域,SWI图像上表现为大小不等的斑点状、结节状、条索状显著低信号.结论 SWI对DAI出血性病灶的检出具有极高的敏感性,能够检出更多、更小病灶,且病灶显示更加清晰,应作为MR诊断DAI常规序列.

关键词：脑、磁共振成像、磁敏感加权成像、弥漫性轴索损伤

所属期刊栏目：27

分类号：R742;R445.2(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2011-04-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：180-184