利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值

摘要：

目的 探讨利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值,以及滤过质厚度、原子序数对n值的影响.方法 利用北京万东HF-50E型高频X线摄影机及其电离室自动曝光系统,对5、10、15、20 cm厚纯净水水模,以及5、10 cm厚5%KI溶液和5 cm厚10%KI溶液水模,从低千伏到高千伏值进行系列曝光,记录每次曝光的实际mAs值,绘制等曝光量曲线,计算n值.结果 千伏指数n值不仅随管电压升高而降低,而且还随水模厚度增加而增加,随滤过质原子序数增加而增加.用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值,方法简便,由于直接用曝光量值计算,其实验误差较小.结论 利用电离室自动曝光系统计算千伏指数n值,可以作为计算n值的方法之一,在教学或制定X线摄影条件中运用.

关键词：感光效应、千伏指数n、电离室、计算

所属期刊栏目：24

分类号：R812;R814.49(放射医学)

在线出版日期：2008-05-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：250-252,286