X线增感屏余辉测试及其意义

摘要：

@@ X线增感屏在受到X线照射后,发射荧光,X线停止照射后,增感屏仍有残余的荧光,这种现象称为"余辉现象".目前国内尚未将增感屏余辉测试确定为"X线暗室技术质量控制指标和检测"的内容[1,2].笔者对普通钨酸钙增感屏和稀土氟氯化钡增感屏作了余辉测试,旨在完善放射技术质量控制内容.

机标关键词：钨酸钙增感屏、技术质量、质量控制指标、照射、荧光、控制内容、氟氯化钡、测试、稀土、检测、国内、放射、发射、暗室

所属期刊栏目：18

分类号：R812(放射医学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：376,386