10.3969/j.issn.1674-3814.2008.07.006
750 kV GIS现场主回路绝缘试验及瓷柱探伤试验分析
对750 kV GIS耐压及局部放电、超声波探伤试验进行了介绍.针对这两个现场特交试验中出现的问题进行分析,提出意见与建议.有助于后续750 kVSE程特交试验的顺利进行,保证设备可安全投入电网运行.
750 kV GIS、耐压试验、超声波探伤、特交试验
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TM855(高电压技术)
2008-11-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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