偏光片表面缺陷智能多分选控制技术

摘要：

设计了一个分选矩阵并给出了对应的监督机制,将缺陷信号行向量和该分选矩阵相乘,直接得出分选结果,解决了偏光片缺陷检测完毕后细化缺陷分类的问题.

关键词：偏光片、表面缺陷检测、分选控制技术

分类号：TP273(自动化技术及设备)

在线出版日期：2023-02-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：180-181,184