10.3969/j.issn.1671-3206.2022.09.041
纳米SiO2表面羟基数测定的研究进展
综述了纳米SiO2颗粒表面羟基数量测定的两种常用方法:物理法和化学法,并对以往学者进行纳米SiO2表面羟基数的测定以及对当前研究进展进行整理分析,总结了各方法的优势、不足及未来的发展趋势.
表面羟基、测定方法、物理法、化学法、综述
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TQ9(其他化学工业)
国家自然科学基金52074333
2022-11-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2698-2703