电磁辐射对原代培养海马神经元的损伤效应及其机制探讨

摘要：

研究X带高功率微波、S带高功率微波及电磁脉冲辐射对原代培养海马神经元的损伤效应并探讨其机制.通过体外培养原代海马神经元,建立电磁波辐照细胞模型.采用Annexin V-PI双标记、流式细胞术检测细胞凋亡与坏死,原子力显微镜检测细胞膜表面形态,Fluo-3-AM荧光探针负载、激光扫描共聚焦显微镜测定胞内[Ca2+]i.结果表明,辐射后海马神经元凋亡与坏死均增加,其中坏死增加明显;细胞膜表面粗糙度加大,膜穿孔增多;胞内[Ca2+]i明显升高.且以上变化均以X带高功率微波组最重,S带高功率微波组次之,电磁脉冲组最轻.提示细胞膜穿孔增多,膜通透性增加,导致胞外Ca2+内流增加,甚至胞内钙超载是辐射致海马神经元凋亡与坏死的机制之一;三种电磁辐射对海马神经元的损伤程度与照射频率呈正相关.

关键词：电磁辐射、海马神经元、原代培养、损伤机制

所属期刊栏目：23

分类号：R3(基础医学)

资助基金：军队医药项目01L023;06Z065

在线出版日期：2007-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：47-53