10.3321/j.issn:1000-6737.2005.02.010
双链DNA膜效应在序列点突变电化学检测中的应用
报道一种基于金表面的双链DNA膜效应检测DNA点突变的新方法.致密的双链DNA分子层可以将电化学信号分子禁闭在金表面和双链DNA之间,或者将信号分子与金表面隔离开,使其无法接触裸金面.在实验系统中采用Fe(CN)63-作为信号分子,在升高温度时,双链DNA膜被破坏,信号分子离开或接触金表面,解链曲线会出现一个陡峭的电化学信号变化.在特定的温度下,完全互补的序列和单碱基点突变的序列的信号比达到了100:1.这种方法简单而且灵敏,同时避免了复杂的共价修饰信号分子的过程.
膜效应、纳米舱、点突变、电化学
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Q7(分子生物学)
国家高技术研究发展计划863计划2002AA221011;北京大学校科研和教改项目
2005-05-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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