低能离子束辐照植物样品质量损失研究

摘要：

采用50 keV的N+对100μm厚的芸豆切片和75μm厚的Mylar(聚乙烯对苯二酸酯)高分子膜辐照,辐照剂量从1×1015ions/cm2到1×1017 ions/cm2.利用高灵敏度的天平测量样品辐照前后的质量,得到了辐照后样品的质量变化.结果表明,当离子剂量大于3×1016 ions/cm2时,切片样品的质量明显减少,并且质量损失随辐照剂量增加而增加;但Mylar膜样品在辐照剂量达到7×1016 ions/cm2时仍没有测量出明显的质量变化.由测量的质量损失计算出50 kcV的N离子轰击切片样品时溅射产额约为560 atoms/ion.结合植物样品的结构和分子组成特性对这种辐照引起的高溅射产额现象作了分析.

关键词：低能氮离子辐照、植物材料、质量损失、溅射、解吸

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分类号：O571.33;Q691.5(原子核物理学、高能物理学)

资助基金：国家自然科学基金198090300

在线出版日期：2003-11-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：189-192