260例新生儿血糖水平临床分析

摘要：

@@ 新生儿低血糖症是新生儿期常见病,尤其多见于早产儿、有窒息史的新生儿、低出生体重儿等高危儿,血糖过低或持续时间过长可造成不可逆的神经系统损伤及智能落后.新生儿低血糖症往往表现不典型,甚至无症状、易漏诊.我院应用微量血糖测试仪对出生72小时内新生儿血糖进行检测,以了解新生儿血糖水平的变化.

机标关键词：新生儿、血糖水平、低血糖症、神经系统损伤、低出生体重儿、血糖测试仪、持续时间、早产儿、无症状、高危儿、常见病、不典型、智能、窒息、应用、微量、漏诊、检测

所属期刊栏目：6

分类号：R725.873(儿科学)

在线出版日期：2008-05-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：78-78