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10.7506/spkx1002-6630-201703009

高压脉冲电场对抗氧化肽荧光特性的影响

引用
以前期研究所得的Gln-Trp-Phe-Met (QWFM,652.78)和Lys-Trp-Phe-Met (KWFM,610.78)抗氧化四肽为研究对象,探究高压脉冲电场技术(pulsed electric field,PEF)对抗氧化肽荧光特性的改变.研究表明,在PEF作用下QWFM和KWFM的荧光强度发生了不同程度的改变,由于两条结构相似的抗氧化四肽中色氨酸前端所连接的氨基酸不同,在相同的PEF处理条件下,QWFM的荧光强度变化更为显著,在电场频率为1 800 Hz和电场强度为15 kV/cm时,其荧光强度变化最显著.通过监测经PEF处理后21抗氧化四肽荧光强度的变化,发现抗氧化四肽荧光强度的变化随着时间的延长而逐渐减弱.通过圆二色谱分析和核磁共振波谱技术分析发现维持QWFM中β-折叠的氢键含量有所改变从而导致了β-折叠结构的含量有所减少.这些变化表明PEF技术可能通过改变抗氧化肽的化学结构而改变其荧光特性,为PEF技术应用于抗氧化肽的研究提供了理论基础.

高压脉冲电场、抗氧化肽、荧光强度、化学结构

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TS201.4(食品工业)

国家高技术研究发展计划863计划项目2013AA102206-5

2017-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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食品科学

1002-6630

11-2206/TS

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2017,38(3)

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