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10.7506/spkx1002-6630-201412025

基于近红外和中红外光谱技术的小麦粉品质检测及掺杂鉴别方法

引用
针对国家标准法检测小麦粉品质的传统方法存在一定缺陷,提出基于近红外光谱和中红外光谱技术快速检测面粉的方法,并基于偏最小二乘法建立了矫正模型,对小麦粉的灰分、水分、面筋品质指标进行了分析.对于小麦粉的掺杂鉴别问题,基于标准法测光谱距离建立了聚类分析模型,结果表明,可实现对小麦面粉品质的快速检测及掺杂鉴别.

小麦粉、近红外光谱、中红外光谱、偏最小二乘法、聚类分析

35

TS207.3(食品工业)

北京市教委科技计划重点项目KZ201310011012

2014-09-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

128-132

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1002-6630

11-2206/TS

35

2014,35(12)

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