苹果硬度品质的光谱图像检测技术研究

摘要：

应用光谱图像技术进行了苹果内部品质无损检测技术的研究.通过采集不同波长(分别为632、650、670、780、850、900nm)的光谱图像,对所采集的光谱图像灰度分布进行洛伦茨分布(LD)、高斯分布(GD)、指数分布(ED)函数的拟合,通过比较发现洛伦茨分布为最优灰度分布拟合函数.将苹果硬度与洛伦茨分布函数拟合所得参数分别进行多元线性回归,建立最佳单波长、最佳双波长组合、最佳三波长组合和最佳四波长组合的校正方程,相关系数分别是最佳单波长R为0.706;最佳双波长0.837;最佳三波长R为0.869;最佳四波长R为0.880.结果表明:利用光谱图像技术无损检测苹果硬度等内部品质是可行性的,为应用计算机图像对水果进行内部品质的无损检测提供了技术依据.

关键词：光谱图像、硬度、苹果、多元线性回归

所属期刊栏目：29

分类号：O434.13;TN911.73(光学)

资助基金：国家自然科学基金30460059

在线出版日期：2008-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：418-422