半透射高光谱多指标同时检测马铃薯内外部缺陷

摘要：

目的：应用半透射高光谱成像技术结合支持向量机(support vector machine, SVM)模型实现马铃薯内外部缺陷多指标同时检测。方法采集310个马铃薯样本半透射高光谱图像,并分别采用标准正态变量变换(standard normalized variate, SNV)、归一化(normalize)和平滑处理(smoothing)对光谱信息进行预处理。进一步采用竞争性自适应重加权算法结合无信息变量消除法(competitive adaptive reweighed sampling algorithm, uninformative variable elimination, CARS-UVE)进行特征波长选择,提高模型识别率。结果原始光谱信息经归一化预处理和竞争性自适应重加权算法结合无信息变量消除法(CARS-UVE)降维后所建的支持向量机(SVM)模型识别结果最优,该方法对合格、绿皮和黑心马铃薯样本预测结果分别为90.7%、88.9%、95.7%,混合识别率为91.3%。结论采用半透射高光谱成像技术结合CARS-UVE方法所建SVM模型能够实现马铃薯内外部缺陷多指标同时检测。

关键词：高光谱成像、支持向量机、内外部缺陷、马铃薯

分类号：O65;TS2

资助基金：国家自然科学基金项目61275156;湖北省自然科学基金重点资助项目2011CDA033

在线出版日期：2015-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：2988-2993