基于高光谱技术苹果硬度快速无损检测方法的建立

摘要：

目的 利用高光谱技术建立苹果内部品质无损检测的方法.方法 将高光谱图像的光谱信息和空间信息结合,采用洛伦兹函数对苹果高光谱的空间散射曲线进行拟合,提取拟合曲线的相关参数,利用拟合参数对苹果硬度进行建模分析.结果 拟合曲线与原散射曲线的相关系数R达到0.99以上.分析比较多种统计建模方法对不同拟合参数的建模效果,结果表明:在524～1016 nm波段范围内,利用偏最小二乘法(partial least squares,PLS)对拟合曲线的峰值建立硬度的预测模型,校正集预测值与标准值的相关系数Rc=0.89,校正集标准误差SEC=0.71×105Pa,验证集预测值与标准值的相关系数Rv=0.88,验证集标准误差SEV=0.88×105 Pa.结论 利用高光谱散射成像技术,采用偏最小二乘的方法对拟合峰值建模,可以实现苹果硬度的快速无损检测.

关键词：苹果、高光谱图像、硬度、洛伦兹函数、偏最小二乘法

所属期刊栏目：3

分类号：TN6;S43

资助基金：公益性行业农业科研专项201003008;引进国际先进农科学业技术948项目2012-Z17

在线出版日期：2013-01-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：667-671