正交投影用于多波长色谱重叠峰分析

摘要：

将正交投影分辨(OPR)技术用于多波长色谱重叠峰分辨,当色谱峰中最大重叠度小于或等于波长数时,用这一方法能从多波长色谱重叠峰中获得完全真解.基于双波长色谱分析,提出了一种新的色谱重叠峰中背景校正、组分数和纯组分信号区确定以及各组分重叠情况的分析方法,即双波长特征信息分析(DWCI).该法被成功的用于三组分双峰和双组分单峰重叠色谱的分析.

关键词：多波长色谱、正交投影、重叠峰分辨、双波长特征信息分析

所属期刊栏目：18

分类号：O658(分析化学)

资助基金：湖南省教育厅青年基金;怀化师范高等专科学校校科研和教改项目

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：100-103