一种基于STM32的简易电路特性测试仪
随着电子行业的不断发展,电子元器件的使用规模以及元器件损坏的数量也日益增长,本次设计意在设计一个电路特性测试仪.可以根据用户所写程序,通过输出信号的变化,判断元器件是否损坏以及分析故障原因.本设计以STM32单片机为核心,辅助以FPGA等实现信号的频谱分析.系统主要由:本机振荡器模块,混频器模块,信号采集模块,频谱显示模块,辅助电源模块等模块组成.
STM32、FPGA、混频、数字波形合成、信号采集
TP212.6;TN773;TN959.6
2020-09-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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