10.3969/j.issn.1671-8313.2018.04.128
电子元器件加速的寿命试验存在的问题与应对措施
伴随科学技术的不断发展,有力推动了电子制造业的高速发展.音加速寿命试验具有低成本且高效率的基本特点,因而被广泛应用于电子元器件领域.本文简要分析了电子元器件在加速寿命试验中所存在的突出问题,有针对性的提出了具体的应对措施.
电子元器件、加速寿命试验、问题、措施
F304.6;D915.13;G279.2
2018-07-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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