飞行时间太赫兹断层成像

摘要：

介绍了利用超短激光脉冲的高分辨飞行时间太赫兹断层成像的发展.其基本原理足,首先非线性光学晶体获得的宽带太赫兹脉冲进入到样品,随后检测每一层反射同来的回波脉冲.利用高斯窗口的去卷积过程我们可以获得清晰、高分辨的断层成像谱图.与聚四氟乙烯薄膜机械厚度测量的结果比较,如果一个样品的折射率为n,则轴向分辨率低于10/nμm.

机标关键词：飞行时间、太赫兹断层成像、聚四氟乙烯薄膜、非线性光学晶体、高分辨、超短激光脉冲、轴向分辨率、太赫兹脉冲、样品、结果比较、基本原理、回波脉冲、厚度测量、折射率、去卷积、谱图、宽带、检测、机械、过程

所属期刊栏目：8

分类号：TM9;TN2

资助基金：This work was partially supported by a Grant-in-Aid for Scientific Research18206009from the Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology;Japan

在线出版日期：2011-04-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：7-9