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关于一维函数型左右手光子晶体的研究

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利用光学传输矩阵方法研究了正折射率和负折射率材料交替组成的一维函数型光子晶体的能带结构和缺陷模特性.通过改变正折射率和负折射率的取值,发现随着正折射率值的增大缺陷模减弱,禁带变宽且数目增多;随着负折射率值绝对值的减小,缺陷模减弱且数目减少,禁带数目减少.该结论对光子晶体的设计,如滤波器、光学开关等具有重要理论意义和应用价值.

函数光子晶体、透射率、缺陷模

34

O436(光学)

吉林省科技发展计划项目20082112

2013-06-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

104-107

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吉林师范大学学报(自然科学版)

1674-3873

22-1393/N

34

2013,34(2)

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