10.3969/j.issn.1674-3873.2008.04.007
Tb14Fe86/Co双层膜中的交换偏置
利用磁控溅射技术制备了Tb14Fe86/Co双层膜.磁性测量表明,当金属Co的厚度小于30(A)!时,Tb14Fe86层与Co层磁矩一致转动,Co的磁矩被耦合在垂直方向;Co的厚度大于30(A)!时,出现了面内和垂直两磁性相的分离.在面内方向,无论金属层的厚度如何,Tb14Fe86/Co双层膜均出现了偏置现象,这是由于TbFe层与金属Co层之间的界面耦合,使Co产生了单向各向异性所致.
RE-TM合金、双层膜、交换偏置
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O469(真空电子学(电子物理学))
国家自然科学基金项目10804036;吉林省杰出青年科学研究计划项目20060123
2009-02-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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