10.3969/j.issn.1002-1566.2001.01.004
两种不同系统因素影响下完全检验的最优设计
本文研究了两种不同系统因素影响下完全检验的质量最优问题,采用有两种不同控制界限的控制图来控制生产过程,并根据完全检验的特点,提出了一种新的最优模型。Hui(1991)提出的最优模型是本文的最优模型的特殊情况,并且本文建立的最优模型还可推广到两种以上不同的系统因素下影响的情况。
质量控制、完全检验、最优设计
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O212;C8(概率论与数理统计)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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