最大似然法在层析 γ 扫描装置发射测量数据分析中的应用

摘要：

在层析 γ 扫描装置发射测量数据分析过程中,通常一个样品需要测量成百上千个 γ 能谱,为了保证该项技术的实用性,每张 γ 能谱的测量时间一般会很短,这样数据统计性不足的问题在TGS测量技术中显得尤为突出,为了解决这个问题,提出最大似然法,利用测量值的联合概率密度分布函数结合自发射方程,使得在发射测量数据的统计性不是很好的情况下,仍然能得到一个较为合理的分析结果.

关键词：层析 γ 扫描装置、发射测量、最大似然法

所属期刊栏目：37

分类号：O631.6+22(高分子化学（高聚物）)

在线出版日期：2020-11-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：231-236