浅析161例高热惊厥患者的脑电图

摘要：

目的 探讨高热惊厥对脑电图的影响.方法 对161列高热惊厥患者的脑电图和相关资料进行回顾分析.将161例高热惊厥患者按不同年龄分为三组:A组(2～4岁),B组(5～7岁),C组(8～9岁),并将三组的脑电图结果进行比较.结果 退热一周后:①脑电图总异常率为47.2%(其中轻度异常21.1%,样改变26.1%).②A组(2～4岁)的脑电图异常率52.1%和C组(8～9岁)的脑电图异常率91.6%,呈明显增高.退热一个月后:①有18例轻度异常的脑电图恢复到正常水平,其余的均无明显变化.②脑电图的异常率与不同的热惊年龄、不同的热惊阈值、首次热惊发作和多次热惊发作有关.③A组(2～4岁)的热惊低阈值率和热惊复发率分别为66.3%和86.6%,是三组中最高的.结论 高热惊厥的发作可导致脑损伤,脑电图检查对高热惊厥的脑损伤和预后的判断是一个很有用的监测.

关键词：高热惊厥、脑电图

所属期刊栏目：3

分类号：R74(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2007-03-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：222-226