电离辐射致急性脑老化大鼠模型的实验研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1674-5817.2005.04.004

电离辐射致急性脑老化大鼠模型的实验研究

引用
目的根据衰老的自由基理论,建立一种简便易行的脑老化模型.方法以60 Co照射大鼠建立急性脑老化模型、D-半乳糖注射大鼠建立亚急性脑老化模型,5月龄大鼠作为青年对照组;通过Y型迷宫测定大鼠的学习与记忆能力;外周血SOD和MDA检测大鼠的抗氧化能力及脂质过氧化情况;通过光镜观察脑组织神经细胞的丢失、坏死及退行性变.结果Y型迷宫测定表明,两个模型组大鼠的学习和记忆能力比对照组明显下降;与对照组相比,外周血中SOD明显降低,而MDA则明显升高;光镜下,在模型组不同脑区均能观察到神经元的丢失和坏死,以海马和皮质最明显.结论成功建立了一种简便易行的急性脑老化模型;为脑老化机制的研究提供了新的实验手段.

脑老化、模型、电离辐射、大鼠

25

R-332;Q95-33(医学研究方法)

苏州大学校科研和教改项目Q3134045

2006-04-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

208-210,214

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

实验动物与比较医学

1004-8448

31-1954

25

2005,25(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn